芯片測試冷熱沖擊實驗箱的操作步驟

冷熱沖擊測試箱在使用過程中要多了解操作流程，芯片測試冷熱沖擊實驗箱可分為預處理、初使檢測、實驗、恢復、檢測五大步驟，下面具體來看下它的操作全流程。

1.預處理：將被測樣 品放置工作室中，讓它在正常的試驗直至達到溫度穩定。

2.初始檢測：將被測樣品與標準要求對照符合要求后直接放入箱內即可。

3.試驗：

①試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內，并將試驗箱內溫度升到規定點保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩定，以時間長度為準。

②高溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節到-55°C的低溫試驗，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩定，同樣以時間長度為準。

③低溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節到70°C的高溫試驗，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩定也是以時間長都為準。

④重復上述實驗方法，以完成三個循環周期。

4.恢復將測試品從試驗箱內取出后，讓它在正常的環境中進行恢復直至它達到標準溫度。

5.檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定。