IC卡動態(tài)雙邊扭曲試驗機(jī)用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

我公司專業(yè)生產(chǎn)、研發(fā)和銷售物理力學(xué)性能試驗設(shè)備，公司生產(chǎn)的力學(xué)試驗機(jī)系列產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)做理化檢測之用。是專業(yè)研發(fā)、設(shè)計、制造的IC卡動態(tài)反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗機(jī)生產(chǎn)廠家。本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、醫(yī)療保險卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會員卡等系列的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗，ICTR-9999 IC卡動態(tài)彎扭測試機(jī)主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測部門、實(shí)驗室等的物理力學(xué)性能、工藝性能的測試和分板研究，深受廣大用戶青睞。

IC卡動態(tài)雙邊扭曲試驗機(jī)本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標(biāo)準(zhǔn)等試驗標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗; 完全符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

IC卡動態(tài)雙邊扭曲試驗機(jī)技術(shù)參數(shù)：

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為2mm±0.50mm，

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為1mm±0.50mm，

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

IC芯片卡彎扭測試儀安裝尺寸完全按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

儀器加罩前的尺寸是：

長：74.5cm，寬：38cm  高：30cm

儀器加罩后的尺寸是：

長：78cm，寬：42.5cm  高：30cm