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CRAIC攜手云緯科技為顯微光譜分析提供先進解決方案

作者: 2017年10月09日 來源:化工儀器在線 瀏覽量:
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美國CRAIC是一家提供顯微分光光度計解決方案的全球領先供應商,自成立以來,CRAIC一致致力于為顯微區域的深紫外,可見光,近紅外研發光學測量設備,其研發的顯微分光光度計可以對小于一個微米的樣品進行光譜分析。 

   美國CRAIC是一家提供顯微分光光度計解決方案的全球領先供應商,自成立以來, CRAIC 一致致力于為顯微區域的深紫外,可見光,近紅外研發光學測量設備,其研發的顯微分光光度計可以對小于一個微米的樣品進行光譜分析。  

  顯微分光光度計    CRAIC 也設計和搭建紫外-可見光-近紅外透過范圍的科研級顯微鏡,美國CRAIC系統可從微觀的樣品中無損的獲得熒光,透射,和反射的全光譜和圖像,美國CRAIC 原廠及其科研級的檢測系統除了廣泛應用于工業(比如半導體檢查),制藥,還應用于材料科學、地質科學、生物科學及制藥、表面等離子共振,法醫痕跡鑒證等科學研究領域    深圳云緯科技有限公司成為美國CRAIC 在中國的一級代理商,我公司與美國CRAIC公司一起攜手,為國內微區光譜科研貢獻最先進的微區光譜解決方案,深圳云緯科技有限公司是一家專業的檢測分析儀器設備供應商,專業為客戶提供最全面的,最先進的顯微光譜分析檢測儀器設備。我們也是一家技術型的貿易企業,也一直致力于材料科學,地質研究,生物科學及制藥,刑偵和工業檢測等領域。    CRAIC一直致力于以下研究顯微分析技術    · 紫外-可見光-近紅外 顯微光譜學技術    · 紫外-可見光-近紅外 顯微鏡學    · 色度顯微光譜學    · 透射顯微光譜學 &顯微鏡學    · 反射顯微光譜學 &顯微鏡學    · 熒光顯微光譜學 &顯微鏡學    · 偏振光顯微光譜學 &顯微鏡學    · 拉曼顯微光譜學    · 膜厚測量    · 譜模式    編輯點評    美國CRAIC公司是研究及生產顯微分光光度分析系統的領導者。美國CRAIC公司生產的QDI系列顯微分光光度分析系統采用了科研級顯微鏡,科研級圖象采集探測器及科研級光譜分析儀。 顯微分光光度分析系統結合了顯微學及光譜學的優勢,實現了對顯微樣品的無損光譜測量及光譜分析。目前已用于石油,煤炭,生物學,半導體科學,材料科學,工業質量控制及刑事科學等。   

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